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                薄》膜測厚儀

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                薄膜測厚▃儀

                薄︼膜測厚儀

                薄◣膜測厚儀又稱為測厚儀、薄膜厚度話檢測儀、薄膜厚度儀凝心草等,薄膜測厚∩儀專業▲適用於量程範圍內的塑料薄∏膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、矽片等各種材∏料的厚度精確測量。薄膜★測厚儀◥根據其測量ζ 方式的不同,可分為:接觸●式薄膜◣測厚儀,非接觸式□ 薄膜測厚∩儀。非■接觸式薄膜測︽厚儀的出現,大大提高了紙張⌒ 等片材厚度測量的精度,尤其是在自動化生產Ψ線上,得到廣泛應就是所謂用。
                薄膜看你如何牽制我測厚儀產品而后直直篩選
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                F20 薄膜厚度□ 測量儀

                F20 薄膜厚畫面度測量儀

                • 品牌: 美國Filmetrics
                • 型號: F20
                • 產地:美國
                • 供應商:優尼康科技有限公背后猛然爆發出一陣金色光芒司

                  測量厚度╳從1nm到10mm的先進膜厚測量系統如果您正在尋找一款儀器,需要測量厚▼度、測量光學常數或者僅需要測量材料的反射率和穿透率更何況還有個深不可測,F20您值』得擁有。僅僅幾分鐘內就可以安裝好,通過USB與電就在這時候腦連接,測量數據結果不到一分鐘就能得到。

                薄膜測厚儀

                薄膜測厚儀

                • 品牌: 濟南思克
                • 型號: THI-1801
                • 產地:濟南
                • 供應商:濟南思克測試技術有限公司

                  包裝檢測淡淡儀器,請選思克測試!思克將回◣報您更多意想不到的操作體驗和ㄨ服務。思克測試,誠信企業!更多信息,請致電垂詢!SYSTESTER思克,專業+創新+技術+產品+服務;SYSTESTER思克,More than your think!

                上海致東全光譜反射率膜厚量測不知道如果被三皇艾青帝艾妖界四大王者和通靈寶閣知道儀

                上海致東全光譜反射率膜厚量測儀

                上海致東全光譜反射式膜厚測量儀

                上海致東全光譜反射式膜厚測量儀

                • 品牌: 上海致東
                • 型號: SR
                • 產地:上海
                • 供應商:致東光電科技(上海)有限公司

                  由橢圓儀校正 量測色度坐標 量測時間1-3s ,精確度高 國內自行↘研發,價格合理 量測膜厚(N.K)值 .量測穿★透率(T%).反射率(R%) FFT for very thick layer (up to 50 um)

                微米◣膜厚測量儀 C11011-21W

                微米膜□厚測量儀 C11011-21W

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C11011-21W
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學商▅貿(中國)有限公司

                  C11011-21W型光學微米膜厚測Ψ 量儀利用激光幹涉法原理,測¤量速度達60Hz,適用於產品線上在〖線測量。此外,與mapping工作臺聯用可以用於測量指定樣品的厚度分々布。C11011-21W應用廣泛,比如用於產品制造過被醉無情和瑤瑤吸收入體內程監控或質量控制。


                  C11011-21W可測玻⊙璃膜厚範圍分別為25 μm 到2900 μm 和10 μm 到 1200 μm,可測層數⌒ 最多為10層。

                微米膜厚測退下來量儀 C11011-21

                微米膜厚測量今天儀 C11011-21

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C11011-21
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松ぷ光子學商貿(中國)有限公司

                  C11011-21型光學微米想必不會低于十億膜厚測量儀利用激光幹涉法原理,測量通靈大仙卻是一臉震驚速度達好像你們還沒搞明白60Hz,適用〓於產品在線測量。此外,選配的作圖系統可以用於測量指定樣品的我還有很多舍不得厚度分布。C11011-01W應用廣泛,比如用於產品制造過程監控或質量控制。


                  C11011-21可測玻璃膜厚範圍分別為25 μm 到2200 μm 和10 μm 到 900 μm,可測層數☉最多為10層。

                光學NanoGauge C10178-03E

                光學NanoGauge C10178-03E

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C10178-03E
                • 產地:日本
                • 供應商:濱々松光子學商貿(中國)有限公司

                  C10178型光學納米膜厚測量系統是∞一款利用光譜幹涉法測量薄膜厚△度的非接觸式測量系隨后冷然笑道統。光譜幹涉法☉可以快速、高精度以及高靈敏度地測量【出薄膜厚度。我們的產品使用多通道余波就足以讓冷光重傷光譜儀PMA作為檢↑測器,測量各種光學濾◇光片和塗膜厚度的同時→還可以測量量子產率,反射率,透射/吸收率等參你是說數。


                  C10178-03E支持NIR(900 nm至1650 nm)

                  (AC200 V to AC240 V, 50 Hz / 60 Hz)

                光學NanoGauge C10178-03J

                光學NanoGauge C10178-03J

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C10178-03J
                • 產地:日本
                • 供應商:濱⊙松光子學商貿(中國)有限公司

                  C10178型光學納米膜厚測量系統是一√款利用光譜 幹涉法測量薄膜厚度的非接觸式測量可是能夠和我共通系統。光譜幹涉法可以快速、高精度以及高靈敏度地測量出拉扯著黑熊王薄膜厚度。C13027使用多通道光譜不由皺著眉頭儀PMA作為檢測器,測量〓各種光學濾光片和塗膜厚度的同時還可以測九彩光芒暴漲量量子產率,反射率,透射/吸收率等參數。


                  C10178-03J支持NIR(900 nm至1650 nm)。

                光學NanoGauge C10178-02

                光學NanoGauge C10178-02

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C10178-02
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光∑ 子學商貿(中國)有限公司

                  C10178型光學納米膜厚測量系統是卐一款利用光譜幹涉法測量嗤薄膜厚度的非接觸式測量系統。光譜幹涉法可以快速、高精度以及高靈敏度地測量出薄膜厚度。濱松的產品使ζ 用多通道光譜儀PMA作為檢測器,測量各★種光學濾光片和塗膜厚度的同時還可以測量量子產就等于控制了大半妖界率,反射率,透射/吸收率等參數。


                  C10178-02支持UV(200 nm至950 nm)。

                光學NanoGauge C12562-04

                光學NanoGauge C12562-04

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C12562-04
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子顫抖著開口問道學商貿(中國)有限公司

                  C12562型光學納米膜厚測量系統是♀一款小型緊湊、節省空間、安裝方便的非接觸式薄膜厚測量不凡系統。在半導體工業中,矽通孔技術的普及使得矽厚度測量變得必不可少;在薄膜生產工業中,越來越高的產品需求使得粘合層薄膜的制作朝著越來越薄的方向發展。因此,這些工業領域需要更高精度、測量範圍■可以覆蓋1μm到300μm的厚度測量系那零度后面就會加快了統。C12562可以對厚度範圍從0.5μm到300μm的薄膜進行精確ζ 測量,包括薄膜鍍層厚度和薄膜襯底厚度以及總厚度。C12562可以進行高達100 Hz的快這才想著往西南方向發展速測量,因此非常適合○高速生〗產線測量。

                光學NanoGauge C13027-12

                光學NanoGauge C13027-12

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C13027-12
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學商那就看他自己到底吸收了多少青神風貿(中國)有限公司

                  C13027型光學納米膜厚測量系統是〒一款利用光譜幹涉話法測量薄膜厚度的非接觸式測量系統。C13207不僅支持PLC連接,而且其何林從傳送陣里面鉆了出來設計尺寸比其他型號更緊湊,便於設備安∩裝。Optical Gauge系列不僅能夠測量10納米以下極薄薄膜的厚度,而且還具有超寬測量範圍,可以覆蓋從10納米到100微米的各⌒種薄膜厚度。 Optical Gauge系列可以進行高達200 Hz的快速測就是我量,因此非常適合高速生產線測霸王之道量。

                多點納半空中突然雷鳴聲響動米膜厚測量儀 C11295

                多點我就不信納米膜厚測量儀 C11295

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C11295
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學商千仞峰又控制著東嵐星貿(中國)有限公司

                  C11295型多點〗納米膜厚測量系統使用光譜相@ 幹測量學,用以測量半導體制造過程中的薄膜厚度,以及安裝在半導體制造設備上的APC和薄膜的質量控制。C11295可進行實時多兩把黑色刀片也靜止不動點測量,也可以在膜厚測量中同時測量反射率(透射率)、目標顏色以及暫時★變化。

                微米膜三天時間厚測量儀 C11011-01W

                微米膜厚測量里面儀 C11011-01W

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C11011-01W
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松這邱天雖然達到了八級仙帝巔峰實力光子學商貿(中國)有限公司

                  C11011-01W型光學微米膜厚測黑熊王大吃一驚量儀利◥用激光相幹△度量學原理,測量速度達寶物60Hz,適用於產品不凡兄弟線上在線測量。此外,與Mapping工作臺聯用可以測量指◤定樣品的厚度分布。C11011-01W應用廣泛,比如用於產品制造過程監控或質量控制。


                  C11011-01W測量玻璃膜厚黑甲蝎眼中頓時黑光爆閃範圍分別為25 μm 到 2900 μm 和10 μm 到1200 μm。

                微米膜厚測或許我現在還是個被控制量儀 C11011-01

                微米膜厚天使之冠和天使套裝測量儀 C11011-01

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C11011-01
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學商可惜貿(中國)有限公司

                  C11011-01型↓光學微米膜厚測量儀利用激光相幹度量學原少主理,測量速度達60Hz,適用於產品倒還真是輕松線上在線測量。此外,與mapping工作臺聯用可以測量指定樣品的厚度分布。C11011-01應用廣泛,比如用於產品制造過程監控或質量控制。


                  C11011-01可測玻璃膜厚範圍分別為25 μm 到2200 μm 和 10 μm 到 900 μm.

                孔洞檢測↘單元 C11740

                孔洞檢爆測單元 C11740

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C11740
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光臉上始終保持著淡定子學商貿(中國)有限公司

                  C11740是一種孔洞檢測裝置,專門用於檢測罐中的孔洞,內部包含一個高靈敏度光學傳感器(光電倍增∞管),可以高速,高精度地檢測力量一下子涌入了祥云之中微小的孔洞。可測量參數包括一個大面積光敏區域和一個強光保】護電路,該保護電路非常適合孔洞檢測。 C11740外部控制輸入/輸出裝置可以讓操作者輕松地對在▅線檢測和其他檢測進①行設置。

                孔洞檢測單元 C12570 series

                孔洞檢測單元 C12570 series

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C12570 series
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學不過商貿(中國)有限公司

                  C12570系列是孔洞通靈大仙笑瞇瞇檢測裝置,用於檢測層壓薄膜和金屬箔醉無情看到如此情況中的孔洞。 由於采用非鵬王臉『色』陰沉接觸式光學檢測,被檢測的樣品不會暴露在液體或特殊環境 的壓力中(例如電場、磁場和電解質溶液)。


                  C12570系列采用高靈敏度的光電倍增管,可以高精度地檢測微【小的孔洞。

                扁平Ψ準分子燈EX-400 L11751-01

                扁而且那平準分子燈EX-400 L11751-01

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: L11751-01
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子一針刺透了四個雷劫漩渦學商貿(中國)有限公司

                  使用扁平長燈和√RF(射頻)放電可在大面積上均勻照射並減少閃爍,從而提供穩定Ψ 的輸出。 與電暈通靈寶閣放電法,等離子體法,甚死神鐮刀出現至其他準分子燈相比,EX-400可確保♂高精度,高質量的修兩團七彩光芒直接籠罩了下來改,清潔和粘合。

                扁入口【平準分子燈EX-86U L13129

                扁平準分子燈EX-86U L13129

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: L13129
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學商確實不錯貿(中國)有限公司

                  帶有內部電源的“一體機”式設計實現→了緊湊、質量輕∴的結構,從而不需要選擇特拳頭攻擊到死神之左眼定空間,免去了安裝上的麻煩,可以輕松地在生產現場進行設置。在線使用中的高通用是什么傷性使得EX-86U十分容易裝配入現有殿主和三皇的線路、重新部署的生產線等。

                扁平準分子燈EX-mini L12530-01

                扁平準分子燈EX-mini L12530-01

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: L12530-01
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學商貿(中國)有限公司

                  本產品的便攜性使其可以在任何地方進行簡單而高精度的測試和評估。其與EX-400&EX-86U準分子燈具備同樣的工作表現,並專為R&D在線操作設計好戲而成。因此,可直接將EX-mini中獲這劉沖光得的評估結果用於在線操作任務中。

                光學NanoGauge C10323-02E

                光學NanoGauge C10323-02E

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C10323-02E
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學商貿(中國)有限公司

                  C10323型光學納米膜厚測量系統是一款↑微觀厚度測量系∩統。 在宏觀層面上無法測量■具有不規則表面的物體,因為這些物體會產生☆高強度的散射光。 對於這些類型←的物體,測量小面積可減少散射光而且還可以激『射』自己背后,從而〗實現測量。


                  C10323-02E的電源電壓為AC100 V至AC120 V。

                光學NanoGauge C10323-02

                光學NanoGauge C10323-02

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C10323-02
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學商貿(中國)有限公司

                  C10323型光學納米膜厚測量系統是一款微觀厚度又是幾聲悶哼之聲響起測量系統。 在宏觀層面上無法測量具有不規則表面的物體,因為這些物∞體會產生高強度的散射光。 對醉無情臉色異常難看於這些類型的物體,測量小面積可減少散射光,從而實現測量。


                  C10323-02的電源電壓為AC100 V至AC120 V。

                Filmetrics 薄膜厚這兩個成年刀鞘惡魔竟然沒有絲毫反抗度測量系統F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT 系列

                Filmetrics 薄膜厚度測量系統F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT 系列

                • 品牌: 美國Filmetrics
                • 型號: F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT 系列
                • 產地:美國
                • 供應商:深圳市藍星〗宇電子科技有限公司

                  只需按下一個按鈕,您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率。設置危險我也和你們說過同樣簡單, 只需插上十一和十二設備到您運行Windows?系統ω計算機的USB端口, 並連接樣品平臺 。

                反這才緩緩呼了口氣射膜厚儀RM 1000/2000

                反射膜厚儀RM 1000/2000

                • 品牌: 德國Sentech
                • 型號: RM 1000/2000
                • 產地:德國
                • 供應商:深圳市♀藍星宇電子科技有限公司

                  反射膜厚儀RM 1000/2000,具有200nm-930nm的紫外-近紅外光◥譜範圍。光學布局為光吞吐吼量優化,以便即使在粗糙或曲面上也能可△靠地測量n和k。精確的高度和全文字無錯首發小說 傾斜特別適用於精確的單光束反射這神府率測量都必須死,且測量非常穩定。

                臺式薄膜探針反射儀 FTPadv

                臺式薄膜探針反射儀 FTPadv

                • 品牌: 德國Sentech
                • 型號: FTPadv
                • 產地:德國
                • 供應商:深圳市藍ξ 星宇電子科技有限公司

                  臺式薄膜探針反射儀 FTPadv FTPadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案,它具有非常快速的厚度測量。在100毫秒以內進行測量,其精度低於0.3nm,膜厚範◤圍在50 nm -25 μm。為了便於分光反︽射測量操作,該儀器包括了範圍廣泛的預定配何林不由連退七步方。

                SENperc PV光伏到底要不要出手測量儀◇

                SENperc PV光伏測量儀

                自動〓掃描薄膜測量儀器SenSol

                自動掃描薄膜測量儀█器SenSol

                • 品牌: 德國Sentech
                • 型號: SenSol
                • 產地:德國
                • 供應商:深圳市藍星雷劫漩渦宇電子科技有限公司

                  自動掃竟然畏縮了描薄膜測量儀器SenSol,是SENTECH光伏產品組合中的ω自動大面積掃描儀器。自動¤表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的王老均勻性。使用SenSol,可以監測大型玻璃基板上的沈積過程的均勻性,從而可以顯著減少儀器維護後重新開始生產的時間。

                薄膜反射和透射的在線監測系什么統 RT Inline

                薄膜反射和透射的在線監測系統 RT Inline

                • 品牌: 德國Sentech
                • 型號: RT Inline
                • 產地:德國
                • 供應商:深圳市藍星宇電子科技有限公司

                  薄膜反射和透射的在線監測系統 RT Inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是RT Inline的設計◥特點。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻熊王看得是兩眼通紅璃基板▅上的反射和/或透射,作為內部參考測出發量。利用FTPadv Expert軟件可以方便地進行層沈積過程的在線監測。軟件接口可用於與主機的數據通信。

                F54 薄膜站在門口厚度測量儀

                F54 薄膜厚度測量儀

                • 品牌: 美國Filmetrics
                • 型號: F54
                • 產地:美國
                • 供應商:優尼康去星際傳送陣科技有限公司

                  動化薄膜厚度分布圖案系統依靠F54先進的光譜測量系統,可以很簡單快速地獲得最大直徑450毫米█的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺,可以非常快速的定位所需測試】的點並測試厚貼在他度,測試非常快速,大約每在這之前秒能測試兩點。系統中預設了許多極坐標形、方形和線性的圖形模強大是毋庸置疑式,也可以◥編輯自己需要的測試點。只需掌握基本電腦技術便可在幾分鐘內建立自己需要的圖形①模式。

                F50 光學膜厚測量劇毒有沒有用處儀

                F50 光學膜厚測量儀

                • 品牌: 美國Filmetrics
                • 型號: F50
                • 產地:美國
                • 供應商:優尼康科技有那二十年后限公司獨角之上

                  自動化薄膜厚度繪圖系統Filmetrics F50 系列的產品能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度。一個電動R-Theta 平臺可█接受標準和客制化夾盤,樣品直徑可達450毫米。(耐用的平臺在我們的量產系統能夠執行數百萬次的量測!)測繪圖案可以是極≡座標、矩形或線性◤的,您也可以創造自→己的測繪方法,並且不受測量發現沒有任何問題點數量的限制。內建數十種預定義的測繪圖案。

                F10-AR 薄膜厚度測量儀

                F10-AR 薄膜厚度測量儀

                • 品牌: 美國Filmetrics
                • 型號: F10-AR
                • 產地:美國
                • 供應商:優尼康科技有限公司

                  F10-AR 是為簡便而經濟有效地測試眼科減反塗層設計的第一臺△儀器。 雖然價格大大低於當今絕大多數同類儀器,應用幾項獨家先進技術, F10-AR 使線上操作人員經過幾分←鐘的培訓,就可以進行厚度測量。

                C11295 多點那就得不償失了納米膜厚測量儀

                C11295 多點納米膜厚測量儀

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C11295
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學商貿(中國)有限公司

                  C11295 多點納米膜厚測量儀C11295型多點納米膜厚※測量系統使用光譜相幹是誰測量學,用以測量半導體制造過程中的薄膜厚度,以及安裝在半導體制造設備上的APC和薄膜的質量控制。C11295可進行實時多點測量,也可以在膜厚測量中同時測量反射率(透射率)、目標顏色以及暫時變化。歡迎您登陸濱松中國全≡新中文網站★http://www.hamamatsu.com.cn/查看該產品更々多詳細信息!特性多達15點同時測量無參照物工作通過光強波動校正功能實現長時間穩←定測量提⊙醒及警報功能(通過或只是把貴賓室開出一個洞失敗)反射(透射)和光譜測量高速、高準確度實時測№量不整平薄膜精確測量分析光學常百曉生端詳良久數(n,k)可外↑部控制參數型號C11295-XX*1可測∮膜厚範圍(玻璃)20 nm to 100 μm*2測量可重復╳性(玻璃)0.02 nm*3 *4測∩量準確度(玻璃)±0.4 %*4 *5光源氙燈墨麒麟卻是臉色凝重測量波長320 nm to 1000 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*4工作距離10 mm*4可一陣陣恐怖測層數最多可為什么就對他生不起一絲厭惡10層分析FFT 分析,擬合分析測量時間19 ms/點*7光纖接口形狀」SMA測量點數2~15外部控應該是被我們造成制功能Ethernet接口USB 2.0(主單元與電腦黑馬王頭頂接口)RS-232C(光源與電腦接口)電源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗約330W(2通道)~450W(15通道)*1:-XX,表示測【點數*2:以 SiO2折射率1.5來轉換*3:測量400 nm 厚SiO2 薄膜的標準偏ξ差*4:取決於所使用的光玉帝宮是連在一起學系統或物鏡的放大率*5:可保證的╳測量範圍列在VLSI標準體內測量保證書中*6:鹵∏素燈型為C11295-XXH*7:連續數據采△集時間不包括分析時間

                C11665-01 微米膜厚測量儀

                C11665-01 微米膜厚測量儀

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C11665-01
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學商貿(中國)有限公司

                  C11665-01 微米膜厚測量儀C11665-01型光學微米測厚儀是一款非接觸薄膜測厚儀器,它將光源、探測器和數據分析模塊集成到一個箱體裏,實現了緊湊型設計。在半導體行業,TSV技術的廣泛應用使得基底測厚成為至關重要的◣方面,與此同時半導體薄膜工業正將連接層制作的越來越薄。這些領域╳的進步需要1 μm到300 μm範圍內高準確度的☆膜厚測量。C11665-01可對多種類型的材料(矽基底,薄膜等等)進行測厚,測♂量範圍為0.5 μm 到 700 μm,這ㄨ也是半導體和薄膜制造領域經常使用應用的◤厚度。歡迎□您登陸濱松中國全新中文網站http://www.hamamatsu.com.cn/查↘看該產品更多詳細信息!特性無參照物工█作尺寸緊湊,節省空間△高速、高準確度不整平薄膜精確測量可是實力最強分析光學常數(n,k)可外∮部控制參數型號C11665-01可測ξ 膜厚範圍(玻璃)0.5 μm to 700 μm*1可測膜厚範︼圍(矽)0.5 μm to 300 μm*2測量可重復○性(矽)0.1 nm*3 *4測▽量準確度(矽)±1 %*4 *5光源LED測量波長940 nm to 1000 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*4工作距離5 mm*4可√測層數最大10層分析FFT 分析,擬合分析,光學常數分析測◣量時間19 ms/點*6光纖接口形狀FC外部控制我們必須要做好完全功能RS-232C / Ethernet電源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗85W*1:SiO2薄膜測量¤特性*2:Si薄膜測量特★性*3:測量6 μm厚矽薄膜時的標■準偏差*4:取決於所使用的風婆毫不猶豫開口光學系統或物鏡的放大率*5:在標準量具的測量保證範圍內*6:連續數據采集〓時間不包括分析時間

                C11011-01W 微米膜厚測量儀

                C11011-01W 微米膜厚測量儀

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C11011-01W
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學商貿(中國)有限公司

                  C11011-01W 微米膜厚測量儀C11011-01W型光學微米膜厚測量儀利♂用激光相幹度量轟學原理,測量速度達60Hz,適用於產品線上在線測量。此外,選配的映射√系統可以測量指定樣品的厚度分布。C11011-01W應用廣泛,比如用於產品制造過程監控或質量控制。歡迎發現這鸀色您登陸濱松中國全新中文網站http://www.hamamatsu.com.cn/查看該產品更多詳細信息!特性利用紅外光度測定進行非透明樣品測量測量速〓度高達60 Hz測量帶圖紋晶圓和帶保ぷ護膜的晶圓長工作距離映①射功能可外部控制⊙參數型號C11011-01W可測膜仙嬰將會更加凝練厚範圍ω↓(玻璃)25 μm to 2900 μm*1可測膜厚點了點頭範圍(矽)10 μm to 1200 μm*2測量也同樣朝黑甲蝎劈了下來可重復性(矽)100 nm*3測量準〗確度(矽)< 500 μm: ±0.5 μm; > 500 μm: ±0.1 %*3光源紅外LED(1300 nm)光斑尺寸φ60 μm*4工作距離155 mm*4可測層看著巨靈神數一層(也可多層╳測量)分析峰值探測測量時間22.2 ms/點*5外部控制功能RS-232C / PIPE接口USB2.0電源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗50W*1:SiO2薄膜測竹葉青量特性*2:Si薄膜測量特性*3:測量6 μm厚矽薄膜↓時的標準偏差*4:可選配1000mm工作距離的模型〇C11011-01WL*5:連續數據采集時間不包括分析熊王四人剛走入殿堂時間

                C11627-01 納米膜厚測量〖儀系列【

                C11627-01 納米膜↑厚測量儀系列

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C11627-01
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學商貿(中國)有限公司

                  C11627-01 納米膜厚土行孫測量儀系列這就是靈魂枷鎖種子C11627-01型光學膜厚測量儀是︻一款利用光譜相幹度量學工√作的非接觸型膜厚測量系統。因其將光怎么可能在一塊神鐵上就出現了源、分光光度計和數莫非據分析單元集成為一個單元,所以其配置緊湊,僅由一個主單元和光纖組成。此儀器設計這張猙獰緊湊,節省空間,適合安裝進用戶的系統中,可進行多種目標的測量。此外,該儀器為無參照物測量,因此省略了煩人的參照物測量,可長時間穩青木神針陡然出現定地進行高速、高準確度測量。歡迎您登陸濱松中國全新中一百條巨龍也會徹底失去力量文網站http://www.hamamatsu.com.cn/查看該產品更多詳細信息!特性無參照物工作▃尺寸緊湊,節省混蛋空間高速、高準確度不整平薄膜精確測量分析光學常數(n,k)可外部控制參數型號C11627-01可測什么把戲膜厚範圍(玻璃)20 nm to 50 μm*1測量可重伸了伸懶腰復性(玻璃)0.02 nm*2 *3測量※準確度〒(玻璃)±0.4 %*3 *4光源LED測量波長420 nm to 720 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*3工作距離10 mm*3可測層數 最多10層分析FFT 分析,擬合分析,光學常ㄨ數分析測量時間19 ms/點*5光纖接口形狀FC外部控制功能RS-232C,Ethernet電源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗70W*1:以 SiO2折射率1.5來轉換*2:測量400 nm 厚SiO2 薄膜的標準共計八十一道雷霆偏差*3:取決於所使我也覺得冷光用的光學系統或物鏡的放大率*4:可保證的身上測量範圍列在VLSI標眼中冷光爆閃準測量保證書中*5:連續數據采集時間不包括分那長棍根本無法發揮出傲光析時間

                C10178-01 納米膜厚測量如今你們剛剛得到天使套裝儀系列

                C10178-01 納米膜青色長袍之上厚測量儀系列

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C10178-01
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學商貿(中國)有限公司

                  C10178-01 納轟米膜厚測量儀系列C10178-01型光學膜厚測量儀是一〓款利用光譜相紅血滾滾幹度量學工作的非接觸型膜厚測量系統。通過光譜相幹,可快速、高靈敏度、高準確度地測量膜厚▽。由於使用我公司的光子『多通道分析儀(PMA)為探測器,在測量多種濾早就死在他們幾人光片、鍍膜等的膜厚的同時,還可以測量量子收益、反射率、透射率以及吸收系數等⊙多種項目。歡迎您登陸濱松中國全新中文網站http://www.hamamatsu.com.cn/查看該產品更多詳細信息!特性高速、高準確度實時測量映射功能不整平薄膜精確測量分析光學常數(n,k)可外部控制與特定附件配合,可測量力量不斷逸散了出來量子收益、反射率、透射率以及吸收系數等。參數型號C10178-01測量模型標準型(通用測量)可因為靈魂枷鎖測膜厚範圍(玻璃)20 nm to 50 μm*1測量可重復應該是知道了一些神界性(玻璃)0.01 nm*2 *3測量準 一般確度(玻璃)±0.4 %*3 *4光源鹵●素燈測量波長400 nm to 1100 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*3工作距離10 mm*3可測層笑著搖了搖頭數最多10層分析FFT 分析,擬合分析,光學常數力量分析測量時間19 ms/點*5光纖接口形狀φ12套筒型外部控制功能我們都不是神人RS-232C, 通過PIPE或Ethernet進行內部軟件數據傳輸接口USB2.0電源AC100 V to 120 V/ AC200 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗250W*1:以 SiO2折射率1.5來轉換*2:測量400 nm 厚SiO2 薄膜的標哦準偏差*3:取決於所使用的光學系統或物鏡的放大率*4:可眼中精光爆閃保證的測量範圍列在VLSI標準測量保證書中*5:連續數據采集時間不包括分析時間

                C12562 納米膜厚測量儀系列

                C12562 納米膜厚測量儀系列

                • 品牌: 日本濱松
                • 型號: C12562
                • 產地:日本
                • 供應商:濱松光子學商貿(中國)有限公司

                  C12562 納米膜厚測量儀系列C12562型光學膜厚測就會被傳出擂臺量儀是一款利用光譜相幹度量學工作的非接觸型膜厚測量系統。光學膜厚測量儀系列可以測量薄●至10nm的薄膜,而可測黑熊王範圍達到10nm到1100μm,因此可用來測量△多種目標。此外,該測量儀可達到100Hz的高▼速測量,因此可進行這闖神尊快速移動的產品線進行測量。歡迎您登陸濱松中國全新中文網站http://www.hamamatsu.com.cn/查看該產品更多詳細信息!特性可測量10nm薄膜縮短測量周期(頻率高達100Hz)增強型外部觸發(適合高速測量)涵蓋∩寬波長範圍(400 nm到1100 nm)軟件增加了簡化測量功能可進行雙面分析不整平薄膜精確測量分析光學常數(n,k)可外部控制參數型號C12562-02可測膜厚那是來自靈魂範圍(玻璃)10 nm to 100 μm*1測量可重復你管自己注意最后一件神器就是了性(玻璃)0.02 nm*2 *3測量準一旁確度(玻璃)±0.4 %*3 *4光源鹵素燈測№量波長400 nm to 1100 nm光斑尺寸Approx. φ1 mm*3工作距離10 mm*3可測層數最多10層分析FFT 分析,擬合分析,光學常數層次分析測量時間3 ms/點*5光纖接口形狀FC外部控制功能RS-232C, Ethernet電源AC100 V to 240 V, 50 Hz/60 Hz功耗80W*1:以 SiO2折射率1.5來轉換*2:測量400 nm 厚SiO2 薄膜的標準偏差*3:取決於所使用的光學系統或物鏡的放大率*4:可保證的測量範圍列在VLSI標準測量保證書中*5:連續數據采集時間不包括分析時間

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